Une technique expérimentale fiable et non destructive permet de surveiller la structure du défaut cristallin dans les nanomatériaux – Avis sur les nanomatériaux
L’Observatoire de l’Union européenne sur les nanomatériaux (EUON) a publié un article sur l'utilisation de l’analyse des profils de raies par diffraction des rayons X pour surveiller la structure du défaut cristallin dans les nanomatériaux.
L’article peut être lu sur le site web de l'EUON dédié à ce sujet.