Eine zuverlässige und zerstörungsfreie experimentelle Technik kann die Kristalldefektstruktur in Nanomaterialien überwachen – Meinung zu Nanomaterialien
EUON hat einen Artikel zur Verwendung der Röntgenlinienprofilanalyse zur Überwachung der Kristalldefektstruktur in Nanomaterialien veröffentlicht.
Der Artikel kann auf der speziellen Website der EUON gelesen werden.